日本nanogray β射線(xiàn)測厚儀SB-1100系列

產(chǎn)品型號：

所屬分類(lèi)：超聲波測厚儀

產(chǎn)品時(shí)間：2021-04-01

簡(jiǎn)要描述：日本nanogray β射線(xiàn)測厚儀SB-1100系列
通常，為了測量片材的寬度方向上的厚度分布，檢測系統由掃描儀攜帶并進(jìn)行測量。通常使用激光位移計作為不接觸地測量厚度的手段，但是如果將激光位移計安裝在掃描儀上，則其傳送的精度遠遠低于激光位移計的精度，從而導致結果。高精度測量是困難的。

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日本nanogray β射線(xiàn)測厚儀SB-1100系列

這是使用β射線(xiàn)（beta射線(xiàn)）的測厚儀（膜厚計）。以非接觸方式（β射線(xiàn)）測量薄片和板狀物體的厚度和密度（基本重量）。通過(guò)直接與參考物質(zhì)比較來(lái)計算厚度和密度（基本重量），而不是直接測量厚度。
　通常，為了測量片材的寬度方向上的厚度分布，檢測系統由掃描儀攜帶并進(jìn)行測量。通常使用激光位移計作為不接觸地測量厚度的手段，但是如果將激光位移計安裝在掃描儀上，則其傳送的精度遠遠低于激光位移計的精度，從而導致結果。高精度測量是困難的。
　另一方面，在諸如β射線(xiàn)測厚儀之類(lèi)的通過(guò)透射衰減來(lái)估計厚度的方法中，測量了空氣層-樣本-空氣層與滲透之間的衰減，但是樣本的衰減遠大于空氣的影響，運輸的影響僅表現為空氣層厚度的變化，并且影響很小。因此，可以高精度地進(jìn)行測量。

β射線(xiàn)測厚儀的一般特點(diǎn)

1. 基本重量可以在不依賴(lài)于元素的情況下進(jìn)行測量。

我們的β射線(xiàn)測厚儀與常規β射線(xiàn)測厚儀相比的特點(diǎn)

1. 無(wú)需設置資格或控制區域（帶顯示的身份驗證設備）
2. 檢測單元和β射線(xiàn)源單元緊湊，輕便，甚至可以安裝在狹窄的地方。

采用

• 塑料膜（多層擠出膜等）
• 電池電極（鋰離子電池（負極/正極），鎳氫電池等）
• 玻璃纖維布
• 陶瓷片
• 銅箔，鋁箔，不銹鋼箔

日本nanogray β射線(xiàn)測厚儀SB-1100系列

貝塔射線(xiàn)測厚儀SB-1100