日本nanogray X射線(xiàn)測厚儀SX-1100系列

產(chǎn)品型號：

所屬分類(lèi)：超聲波測厚儀

產(chǎn)品時(shí)間：2021-04-01

簡(jiǎn)要描述：日本nanogray X射線(xiàn)測厚儀SX-1100系列
使用軟X射線(xiàn)（軟X射線(xiàn)）的厚度計（膜厚度計）。以非接觸方式（軟X射線(xiàn)）測量薄片和板狀物體的厚度和密度（基本重量）。通過(guò)直接與參考物質(zhì)比較來(lái)計算厚度和密度（基本重量），而不是直接測量厚度。

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日本nanogray X射線(xiàn)測厚儀SX-1100系列

使用軟X射線(xiàn)（軟X射線(xiàn)）的厚度計（膜厚度計）。以非接觸方式（軟X射線(xiàn)）測量薄片和板狀物體的厚度和密度（基本重量）。通過(guò)直接與參考物質(zhì)比較來(lái)計算厚度和密度（基本重量），而不是直接測量厚度。
　通常，為了測量片材的寬度方向上的厚度分布，檢測系統由掃描儀攜帶并進(jìn)行測量。通常使用激光位移計作為不接觸地測量厚度的手段，但是如果將激光位移計安裝在掃描儀上，則其傳送的精度遠遠低于激光位移計的精度，從而導致結果。高精度測量是困難的。
　另一方面，在諸如X射線(xiàn)厚度計之類(lèi)的通過(guò)透射衰減來(lái)估計厚度的方法中，測量了空氣層-樣品-空氣層與透射之間的衰減，但是由于樣品引起的衰減很大。比空氣的厚度大，運輸的影響僅表現為空氣層厚度的變化，并且影響很小。因此，可以高精度地進(jìn)行測量。

軟X射線(xiàn)測厚儀的一般功能

1. 無(wú)需任命放射線(xiàn)處理負責人或X射線(xiàn)工作負責人，也無(wú)需設置受控區域
   （需要通知nao工標準檢查辦公室）
2. 路徑錯誤可以忽略
3. 高元素依賴(lài)性

與傳統的軟X射線(xiàn)測厚儀相比，我們的軟X射線(xiàn)測厚儀的功能

1. 檢測單元和X射線(xiàn)源單元結構緊湊，重量輕，甚至可以安裝在狹窄的地方。
2. 測量范圍廣（材料/厚度）

采用

• 銅箔，鋁箔，不銹鋼箔
• 電池電極
• 陶瓷（薄板，薄餅）
• 玻璃纖維布

日本nanogray X射線(xiàn)測厚儀SX-1100系列