日本napson手動(dòng)非接觸式渦流法電阻測量?jì)x

產(chǎn)品型號： EC-80

所屬分類(lèi)：

產(chǎn)品時(shí)間：2020-09-18

簡(jiǎn)要描述：日本napson手動(dòng)非接觸式渦流法電阻測量?jì)xEC-80
緊湊且易于操作的手動(dòng)非接觸式（渦流法）電阻測量?jì)x

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日本napson手動(dòng)非接觸式渦流法電阻測量?jì)xEC-80

產(chǎn)品特點(diǎn)

• 簡(jiǎn)單的測量?jì)x器，只需將樣品插入探針之間即可進(jìn)行測量
• 在電阻/薄層電阻測量模式之間輕松切換
• 使用JOG撥盤(pán)輕松設置測量條件
• *由于探頭是固定的，因此在購買(mǎi)前可以從幾種探頭中選擇一種。

測量規格

測量目標

半導體/太陽(yáng)能電池相關(guān)材料（硅，多晶硅，SiC等）
新材料/功能材料相關(guān)（碳納米管，DLC，石墨烯，銀納米線(xiàn)等）
導電薄膜相關(guān)（金屬，ITO等）
硅基外延，離子與
半導體相關(guān)的進(jìn)樣樣品化合物（GaAs Epi，GaN Epi，InP，Ga等）
其他（*請與我們聯(lián)系）?

測量尺寸

?8英寸，或?156x156mm? 

日本napson手動(dòng)非接觸式渦流法電阻測量?jì)xEC-80

測量范圍

[電阻] 1m至200Ω·cm
（*所有探頭類(lèi)型的總范圍/厚度500um）
[抗頁(yè)電阻] 10m至3kΩ / sq
（*所有探頭類(lèi)型的總范圍）

*有關(guān)每種探頭類(lèi)型的測量范圍，請參閱以下內容。
（1）低：0.01至0.5Ω/□（0.001至0.05Ω-cm）
（2）中：0.5至10Ω/□（0.05至0.5Ω-cm）
（3 ））高：10至1000Ω/□（0.5至60Ω-??cm）
（4）S-高：1000至3000Ω/□（60至200Ω-cm）