芯片制造中薄膜厚度怎么測量？

在半導體制造業(yè)中，薄膜的厚度對器件的性能和質(zhì)量有重要影響。在制造過(guò)程中，晶圓要進(jìn)行多次各種材質(zhì)的薄膜沉積，因此薄膜的厚度及其性質(zhì)（如折射率和消光系數）需要準確地確定，以確保每一道工藝均滿(mǎn)足設計規定。光學(xué)薄膜測量設備的光譜測量方式主要分為橢圓偏振和垂直反射兩種。在橢圓偏振方式下，光源發(fā)出的光經(jīng)由起偏器、光學(xué)聚焦系統，以一定的角度入射圓片，經(jīng)過(guò)表面膜層和硅襯底反射的光學(xué)系統和起偏器，由光譜儀接受。通過(guò)對膜厚和薄膜光學(xué)常數等變量進(jìn)行回歸迭代逼近，使計算光譜和實(shí)測光譜吻合，最終所得到的迭代值即為所測薄膜的厚度和光學(xué)常數。

垂直反射式測量得到的只是圓片表面的垂直反射光譜，不包含偏振光的位相變化的信息，且必須通過(guò)與事先在標準裸圓片上測得的反射光譜對比才能得到樣品的垂直反射率。垂直反射式測量相比橢圓偏振式測量，靈敏度要更低，主要用于較厚薄膜和單層膜的厚度測量。

臺式離線(xiàn)接觸式測厚儀

質(zhì)量控制、研究和開(kāi)發(fā)應用的理想選擇

模型	TOF-4R05
測量方法	接觸式/線(xiàn)性規/夾緊方式
測量目標	薄膜、片材
測量原理	線(xiàn)性規/夾緊法

產(chǎn)品特點(diǎn)

• 輕松快速的離線(xiàn)厚度測量

• 測量數據實(shí)時(shí)顯示在屏幕上

• 測量數據還可以自動(dòng)保存到您的計算機中。

• 由于測量是自動(dòng)進(jìn)行的，因此測量數據不存在個(gè)體差異。

• 雷達圖也可用于調整吹塑薄膜。

• 由于采用夾層法進(jìn)行測量，因此即使是有卷曲等的厚紙也可以測量。

產(chǎn)品規格

測量厚度	0.03～3mm
測量長(cháng)度	10～10000mm
測量間距	1毫米~
最小顯示值	0.5微米
測量壓力	0.6±0.1N
電源電壓	AC100~240V 50/60Hz
工作溫度限制	5～40℃
濕度	35-80%（無(wú)冷凝）
能量消耗	50 VA（不包括電腦）
選項	?卷紙打印機輸出功能 ?0.1mm間距測量功能 ?連續測量功能 ?各專(zhuān)用探頭 ?圖像轉印功能 ?壓紙機構 ?輸送速度顯示