硅片表面光潔度檢測設備-光澤度計IG-410的特點(diǎn)

使用近紅外線(xiàn)作為光源，測量光澤度為1000（鏡面反射率100%）。
這是一種便于現場(chǎng)作業(yè)的便捷類(lèi)型，只需將與顯示部分分離的測量部分放置在被攝體上即可進(jìn)行測量。
無(wú)需預熱。
它非常適合需要高水平表面光澤的產(chǎn)品的質(zhì)量控制，例如汽車(chē)頭燈等照明用反射器、復印機用反射器和硅晶圓。

• IG-410 能夠測量金屬等高光澤區域，
  是 IG 系列光澤度檢查儀的新成員。測量范圍為0至1000，比以前的型號大10倍。還可以測量鏡面樣品。 

• 緊湊輕巧的設計，方便現場(chǎng)測量，
  重量?jì)H350g，方便攜帶。由于是一鍵式操作，因此可以輕松攜帶到生產(chǎn)現場(chǎng)進(jìn)行測量。
  由于采用LED作為光源，因此無(wú)需擔心光源的壽命。
  

• 可通過(guò)在 2 個(gè)量程之間切換來(lái)測量低光澤度?？?br data-filtered="filtered" style="box-sizing: border-box;"/>在 0 至 100 和 0 至 1000 之間切換。每個(gè)范圍都配有自己的校準板。
  IG-410 不僅可以測量高光澤金屬，還可以測量低光澤區域，例如金屬板上涂漆的樣品。

應用實(shí)例

• 用于檢查金屬制品的表面光潔度

• 用于檢查鋁和不銹鋼軋制板的外觀(guān)

• 用于檢查電鍍產(chǎn)品的外觀(guān)

• 用于檢查硅片表面光潔度
  

*由于光澤度是通過(guò)光的反射來(lái)測量的，因此測量點(diǎn)必須平坦。