液晶面板表面缺陷及檢測應用分析
薄膜顯晶體管液晶顯示器（TFT-LCD）具有高分辨率和功耗低等優(yōu)點(diǎn)，因此被廣泛應用于顯示器行業(yè)。但是顯示屏的生產(chǎn)過(guò)程流程多、環(huán)境等因素，難以避免會(huì )出現缺陷顯示屏，導致產(chǎn)品不良率較高。TFT-LCD顯示屏的制作包括鍍膜、刻蝕、顯影、面板組合、灌晶封口和安裝驅動(dòng)芯片等工藝，復雜的工序導致缺陷的出現，常見(jiàn)的缺陷包括點(diǎn)缺陷，線(xiàn)缺陷和Mura缺陷。“Mura"一詞來(lái)源于日語(yǔ)，譯為斑點(diǎn)、臟污，也被稱(chēng)為“云斑"，是顯示缺陷中最難檢測的缺陷之一。傳統的Mura檢測方法是通過(guò)人工視覺(jué)檢查的方式實(shí)現的，主要采用裸眼辨別的方法。此方法效率低下，并且容易造成視覺(jué)疲勞，從而導致結果正確率降低。基于機器視覺(jué)的液晶面板檢測，可實(shí)現對液晶面板的各個(gè)生產(chǎn)工藝產(chǎn)生的缺陷進(jìn)行檢測，包括Array（陣列）工藝，CF（彩膜）工藝，CELL（成盒）工藝，Module（模組）工藝，可實(shí)現對crack（裂紋），broken（破損），chip（崩邊），scratch（劃痕），burr（毛刺），drop（水滴）等缺陷的有效檢測區分。
日本sena鹵素表面檢查燈185le
日本sena lamp高照度鹵素強光燈185LE屏幕面板檢查燈
高照度照明設備（表面檢查燈）185LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。
適合于TFT面板、CF（彩色濾光片），觸摸屏制造等行業(yè)。
