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用于干式檢測芯片反應分布測量裝置OD4-8的特點(diǎn)

發(fā)布時(shí)間:2023-08-16 點(diǎn)擊量:3853

用于干式檢測芯片反應分布測量裝置OD4-8的特點(diǎn)

評估 可以測量電池中的反應分布

特征

  1. 可以測量電池中的反應分布

    規范
    探測器1392×1040(像素)CCD
    像素大小20×20微米
    線(xiàn)性保證高達吸光度4
    測量時(shí)間測量時(shí)間點(diǎn) 1000
    最小測量時(shí)間間隔10(秒)
    波長(cháng)405、450、570、630、810(納米)
    溫度控制37°C±0.1°C
  2. 由于它是斬波器系統,因此可以消除外部光線(xiàn)和噪音。

  3. 光密度是根據樣品相對于參考的透射率計算的。

  4. 可以任意間隔進(jìn)行連續測量。

  5. 選項多點(diǎn)測量 使用偏振棱鏡進(jìn)行極化率測量 波長(cháng)下的透射率測量

OD4-蘋(píng)果手機 多波長(cháng)圖像測量系統

它是一種可以通過(guò)移動(dòng)終端測量的系統。



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