用于干式檢測芯片反應分布測量裝置OD4-8的特點(diǎn)
發(fā)布時(shí)間:2023-08-16 點(diǎn)擊量:3853
用于干式檢測芯片反應分布測量裝置OD4-8的特點(diǎn)
評估 可以測量電池中的反應分布
特征
可以測量電池中的反應分布
由于它是斬波器系統,因此可以消除外部光線(xiàn)和噪音。
光密度是根據樣品相對于參考的透射率計算的。
可以任意間隔進(jìn)行連續測量。
選項多點(diǎn)測量 使用偏振棱鏡進(jìn)行極化率測量 定波長(cháng)下的透射率測量
OD4-蘋(píng)果手機 多波長(cháng)圖像測量系統
它是一種可以通過(guò)移動(dòng)終端測量的系統。