熱電特性評價(jià)裝置 ZEM-3系列的測量原理分析

這是一種同時(shí)測量熱電材料的熱電率（塞貝克系數）和電導率的裝置。我們準備了溫度范圍為-80°C至1000°C的測量?jì)x器，操作簡(jiǎn)單。

用途

半導體，陶瓷，金屬等廣泛材料的熱電特性評價(jià)。

樣品以圓柱形或方柱的形式垂直放置在加熱爐中的上塊和下塊之間。通過(guò)下塊中的加熱器給樣品施加溫度梯度，同時(shí)將樣品加熱并保持在規定的溫度。塞貝克系數的測量是通過(guò)測量壓在樣品側面的熱電偶上的上部和下部T1，T2與熱電偶一側的同一股線(xiàn)之間的熱電動(dòng)勢dE來(lái)確定的。
電阻測量采用直流四端法，通過(guò)在樣品兩端施加恒定電流I，測量熱電偶同一元件線(xiàn)之間的電壓降dV，并去除引線(xiàn)之間的熱電動(dòng)勢來(lái)確定。

P型Si80Ge20燒結體的測量實(shí)例

特長(cháng)

• 采用溫度可控性?xún)?yōu)異的紅外線(xiàn)金像加熱爐和溫差控制用微加熱器

• 測量由計算機控制，可以在規定溫度下對各溫差進(jìn)行測量，也可以消除暗電動(dòng)勢等自動(dòng)測量

• 標配自動(dòng)歐姆接觸檢查（V-I圖）

• 可選附件可用于測量薄膜

• 可定制為高電阻