您好,歡迎來(lái)到秋山科技(東莞)有限公司!
Product center
ecginc匝間短路檢測儀的概要
匝間短路檢測儀可以對線(xiàn)圈做到有效的,非破壞性測試。
其原理是將相同的脈沖電流傳遞給標準繞組(主線(xiàn)圈)和被測繞組(采樣線(xiàn)圈),比較瞬態(tài)現象波形,并判斷質(zhì)量。瞬態(tài)波形,即在線(xiàn)圈中產(chǎn)生的減衰振動(dòng)波形表示電感和Q,并且可以同時(shí)確定線(xiàn)圈的匝數差,層厚度,或確定材料的差異等等。施加更高的脈沖電壓還可以從電暈放電中檢測出絕緣缺陷。 換句話(huà)說(shuō),可以在非常短的時(shí)間內可以對線(xiàn)圈做各種檢測
在規定的時(shí)間間隔內比較主設備區域的大小和樣本的區域大小。 。
例圖1 算出a-b區間的面積,判定它們之間差異大小。判定標準設為%,如果被測的物判定結果在所設范圍內,即是良品。面積大小,大致與線(xiàn)圈中的能量損失成比例,根據損耗大小來(lái)判斷。例如當樣品線(xiàn)圈處于短路狀態(tài),損耗部分就會(huì )增大并且此結果可以顯示出來(lái)。
計算規定間隔內主設備和樣本之間波形的不同部分的面積。
例圖2算出a-b區間的面積,和標準面積(圖1)相比較,根據其大小程度可以做出判定。判定標準設為%,如果被測的物判定結果在所設范圍內,即是良品。波形差面積的大小,通過(guò)L值及損失程度大小的總和來(lái)顯示。特別是L值變化有問(wèn)題的時(shí)候,這個(gè)方法有效。
忽略波形差異,檢測像圖3的電暈放電等周波成分。
通過(guò)對任意規定部分的波形應用濾波處理來(lái)檢測電暈分量,并且基于其幅度確定電暈分量。判定基準設定為整數值,如果被測的物判定結果在所設范圍內,即是良品。
Laplacian是一種數字濾波方法,用于在圖像處理中檢測物體的邊緣強度,與FLUTTER VALUE方法相比,能夠使波形數據中隱藏的不連續性數值(即噪音)數據化,可以判斷準確且易于理解的放電成份。
對被測試線(xiàn)圈逐漸施加電壓的同時(shí),通過(guò)AREA以及Laplacianl進(jìn)行絕緣破壞判定,臨近破壞前施加的實(shí)際測試電壓作為被測線(xiàn)圈的破壞電壓來(lái)顯示(図4)
保存的標準波形和樣品波形可以簡(jiǎn)單的疊加顯示,從而更能容易區分2個(gè)先前的特性差異。
DWX-01A | DWX-05A | DWX-10 | ||
---|---|---|---|---|
施加電壓?電壓可調檔位 ?施加能量 ※ 抵抗負荷為1KΩ | 50V~1000V (10V檔) 最大5m焦耳 | 500V~5000V (100V檔) 最大0.12焦耳 | 1000V~10000V (100V檔) 最大0.5焦耳 | |
測試電感范圍 | 10μH以上 | 10μH以上 | 50μH以上 | |
采樣?速度 / 內存 | 8bit/10nano-sec.(100MHz) / 8192-Byte | |||
采樣?范圍 (WIDTH) | -4,-3,-2,-1,0,1,2,3,4,5 10個(gè)范圍(0 DW系列互換) | |||
測試輸入回路 | 電阻分壓(5MΩ) | |||
畫(huà)面顯示,波形顯示范圍 | 640×480(VGA),8.4寸彩色液晶,4色表示 512×256 | |||
判定方法 | 和標準波形比較 根據波形面積,波形差面積,放電量進(jìn)行比較判定 線(xiàn)圈絕緣破壞電壓測試功能 | |||
標準波形 儲存容量 | 主機擴張 | 196種(14種/14頁(yè)) Compact Flash Memory700中(14種/50頁(yè)) | ||
外部接口 | 并行口I/O(Start,Reset,OK,NG,Busy,Master等) RS-232C(測試控制 測試數據) 打印機板(畫(huà)面硬拷貝等) EtherNet適配器(可選) | |||
附件 | 測試電纜線(xiàn)1.5M 1根,電源線(xiàn)1根(付3P轉換頭) Compact Flash Memory 1個(gè),并行口I/O連接器1個(gè) 使用說(shuō)明書(shū)?測試成績(jì)書(shū) 1份 | |||
使用條件 | 0℃~40℃ 電源電壓:100V~240V±10%(出廠(chǎng)時(shí)工廠(chǎng)設定) | |||
外形尺寸 (不含Carry Handle) ?重量 | 345(W)×185(H)×370(D) 約10Kg | 345(W)×325(H)×370(D) |