光學(xué)特性檢測系統的特性及結果分析

掃頻測試系統

結合可調諧激光器（TSL系列）、功率計（MPM）、偏振控制單元（PCU-110）和定制軟件，對研發(fā)和生產(chǎn)線(xiàn)上的IL/WDL/PDL進(jìn)行高效測量和評估。您可以做到。

多站測量

通過(guò)將掃描測試系統與多分支單元相結合，可以進(jìn)一步提高檢查和評估的效率。

概述

掃頻測試系統結合了可調諧激光器（TSL 系列）、多端口功率計（MPM 系列）、偏振控制單元（PCU-110）和專(zhuān)用軟件，是光學(xué)器件研發(fā)和生產(chǎn)現場(chǎng)的理想選擇。它是一種評估工具。IL/WDL/PDL 可以通過(guò)同時(shí)獲得通過(guò) DUT 傳輸的光功率，同時(shí)實(shí)時(shí)參考可調諧激光器的輸出功率來(lái)進(jìn)行高精度測量。系統采用穆勒矩陣法計算 PDL。

測量 超過(guò) 80 dB 的高動(dòng)態(tài)范圍測量

Thorlabs 的TSL 系列可調諧激光器采用創(chuàng )新的腔體設計，可降低光學(xué) ASE 噪聲，實(shí)現非常高的信噪比和高光輸出功率。因此，該系統可以在多個(gè)端口同時(shí)評估具有高動(dòng)態(tài)范圍特性的光學(xué)元件的特性。
下圖分別顯示了 CWDM 濾波器和陷波濾波器（例如 FBG）的測量數據。

由于TSL 系列標配波長(cháng)監視器，因此可以高精度測量光學(xué)元件。
下圖顯示了乙炔（12C2H2）氣體在測量波長(cháng)處的吸收線(xiàn)，可以看出以高的測量精度進(jìn)行了測量。

該系統可以測量具有高波長(cháng)分辨率的 WDL 和 PDL，不僅適用于 WDM 光學(xué)元件，還適用于窄線(xiàn)寬濾波器。
圖中顯示了超高 Q 電容器件的測量，可以看出可以在 0.1 pm 或更小的分辨率下進(jìn)行測量。

在多站測量系統中，可調諧激光器、偏振控制器和多分支單元充當服務(wù)器，光和觸發(fā)信號從中分離并發(fā)送到每個(gè)站。每個(gè)站僅由一個(gè)功率計和一臺 PC 組成。

在測量過(guò)程中，服務(wù)器的可調諧激光連續掃過(guò)規定范圍。因此，每個(gè)站都可以在任何時(shí)間獨立于其他站進(jìn)行測量。

這樣，該系統可以在保持高精度特性的同時(shí)，進(jìn)一步提高檢測和評估的效率。

• 可調諧激光器 TSL-570

• 偏光控制器 PCU-110

• 多分支單元 MBU-100

• 光功率計 MPM-210H