3D表面輪廓測量原理

什么是白光干涉？

白光干涉儀是一種能夠以納米級精度對粗糙度和臺階等三維表面特征進(jìn)行非接觸式測量的技術(shù)。測量粗糙度和臺階的技術(shù)包括接觸式輪廓儀、原子力顯微鏡 (AFM) 和激光顯微鏡。

白光干涉儀可以說(shuō)是一種能夠實(shí)現高精度、高速測量和大范圍測量的系統。

白光干涉儀的測量原理

光學(xué)系統結構

干涉條紋

白光干涉法是用相機測量光的干涉圖案來(lái)測量三維形狀。如果您使用帶有內置參考鏡（稱(chēng)為干涉鏡）的物鏡，并用白光照射參考鏡和樣品，當兩個(gè)反射光的光路相同時(shí)，兩個(gè)光發(fā)生強烈干涉并變亮. 反之，當兩束反射光的光路不同時(shí)，兩束光相互抵消而變暗。

 

在測量不同高度的樣品時(shí)，根據光路的不同，在光線(xiàn)強弱的地方會(huì )出現干涉條紋。

通過(guò)使用壓電致動(dòng)器或步進(jìn)電機在樣品上上下移動(dòng)物鏡來(lái)觀(guān)察干涉信號。干擾信號峰值分別出現在 A 側和 B 側，這些峰值位置的偏移就是高度差。