材料檢測裝置 M-CAP V2 系列的特征及功能介紹

材料檢查裝置M-CAP V2是充分利用新的圖像處理技術(shù)開(kāi)發(fā)的平面專(zhuān)用外觀(guān)檢查裝置。在保持與以前相同的易用性的同時(shí)，實(shí)現了更高的速度和更高的分辨率。除了檢測針孔、異物污染和污垢附著(zhù)等小缺陷外，它不會(huì )忽略薄膜材料不均勻、條紋和劃痕等難以區分的缺陷。

特征

• 無(wú)論安裝位置如何，都可以靈活布局
  集成單元主體的控制面板已被取消，配置由每個(gè)功能的組件組成。
  這增加了安裝的靈活性，并有助于有效利用工廠(chǎng)空間。

• 追求用戶(hù)友好的易用性
  采用液晶顯示器和易于使用的交互系統，操作變得簡(jiǎn)單。

• 通過(guò)更新成像系統實(shí)現高速和高分辨率
  采用新開(kāi)發(fā)的數碼相機，在高速傳輸過(guò)程中實(shí)現清晰的圖像和微小缺陷的檢測。

• 標準配備
  專(zhuān)有 LED 照明 使用具有高亮度和高顯色性的專(zhuān)有 LED 照明。
  還可以剔除因特殊結構而難以判斷的魚(yú)眼（凝膠）和黑點(diǎn)。

• 即使放大
  了基于 AI 的超分辨率技術(shù)，也可以清楚地顯示缺陷圖像，即使在放大時(shí)也可以防止缺陷圖像變得顆粒狀。

• 通過(guò)增強的數據管理進(jìn)行有效的質(zhì)量控制
  實(shí)時(shí)匯總每行和距離的缺陷數量，數據可以作為 PDF 文件輸出。
  它還支持網(wǎng)絡(luò )數據管理功能等，有助于更有效的質(zhì)量控制和提高生產(chǎn)力。

• 檢查功能的顯著(zhù)擴展
  最多可同時(shí)檢查 5 個(gè)電路，極大地提高了檢查性能。
  線(xiàn)性缺陷檢測電路增強了對皺紋、薄膜裂紋、毛發(fā)、絨毛等的檢測。
  此外，光缺陷檢測電路增強了對大面積光斑和不均勻光斑的檢測。

應用領(lǐng)域

• 應用
  薄膜、片材、無(wú)紡布、金屬、各種涂膜等。

• 適配機
  貼膜、制片機等