薄膜材料不均勻光斑檢測技術(shù)

材料檢測裝置M-CAP V2是充分利用圖像處理技術(shù)開(kāi)發(fā)的平原地面外觀(guān)檢測裝置。在保持傳統易用性的同時(shí)，實(shí)現了更高的速度和更高的分辨率。除了檢測針孔、異物污染和污垢附著(zhù)等小缺陷外，我們不會(huì )忽略薄膜材料上的不均勻、條紋和劃痕等難以區分的缺陷。

特征

• 無(wú)論安裝位置如何，都可以靈活布局
  取消了一體機的主體控制面板，由各功能的組件構成。
  它提高了安裝的自由度，有助于有效利用工廠(chǎng)空間。

• 追求用戶(hù)友好的易用性
  采用液晶顯示器和易于使用的對話(huà)方式，操作簡(jiǎn)單。

• 更新成像系統以實(shí)現高速和高分辨率通過(guò)
  采用新開(kāi)發(fā)的數碼相機，實(shí)現了高速傳輸過(guò)程中清晰的圖像和微小缺陷的檢測。

• 標配
  原裝 LED 照明燈 采用實(shí)現高亮度和高顯色性的 LED 照明燈。
  也可以選擇魚(yú)眼（凝膠）和黑點(diǎn)，由于特殊的結構很難判斷。

• 即使
  放大有缺陷的圖像也能清晰顯示通過(guò)利用人工智能的超分辨率技術(shù)，即使放大和顯示有缺陷的圖像，圖像也不會(huì )變得粗糙。

• 通過(guò)廣泛的數據管理進(jìn)行有效的質(zhì)量控制
  可以實(shí)時(shí)匯總每列和距離的缺陷數量，并且可以將數據輸出為 PDF 文件。
  它還通過(guò)網(wǎng)絡(luò )支持數據管理功能，有助于提高質(zhì)量控制效率和生產(chǎn)力。

• 檢查功能的顯著(zhù)擴展
  通過(guò)同時(shí)檢查多達 5 個(gè)電路工藝，大大提高了檢查性能。
  線(xiàn)性缺陷檢測電路增強了對皺紋、薄膜裂紋、毛發(fā)、絨毛等的檢測。
  此外，光缺陷檢測電路增強了對大面積光斑和不均勻光斑的檢測。

應用領(lǐng)域

• 應用
  薄膜、片材、無(wú)紡布、金屬、各種涂膜等。

• 適配機
  貼膜、制片機等

缺陷顯示示例

凝膠

皺紋

水平皺紋

異物

電影片