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日本檢查燈185le與YP-150I的檢測差別
185le
適合于TFT面板、CF(彩色濾光片),觸摸屏制造等行業(yè)。
標準構成如下。
光源:直流點(diǎn)燈 17V/185W 鹵素燈
冷卻方式:強制空冷
電源電圧:AC 95V~AC 260V,50/60Hz
尺寸:光源 136mm H×112mm W×150mm D
重量:光源2.3kg
立桿5.0kg
高照度照明設備(表面檢查燈) 185-LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。
適合于TFT面板、CF(彩色濾光片)、觸摸屏制造等行業(yè)。
高照度照明設備(表面檢查燈) 185-LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。
適合于TFT面板、CF(彩色濾光片)、觸摸屏制造等行業(yè)。
大照度 | 照射距離 310mm、 照射直徑徑 55mmφ 時(shí)照度在 400,000 Lux以上) | |
光源 | 直流點(diǎn)燈 17V/185W 鹵素燈 | |
照度調整 | 連續可調至大照度的 20% | |
冷卻方式 | 強制空冷 | |
使用溫度范囲 | 0 ~ 40℃ | |
電源電圧 | AC 95V ~ AC 260V, 50/60Hz | |
功率 | 250W | |
尺寸 | 光源 | 136mm H × 112mm W × 150mm D |
電源 | 229mm H × 90mm W × 250mm D | |
重量 | 光源 | 2.3kg |
電源 | 3.6kg | |
立桿 | 5.0kg |
半導體晶圓的加工用高亮度鹵素光源裝置-YP-150I/YP-250I
高亮度鹵素光源設備是 一種宏觀(guān)觀(guān)察照明設備,用于檢測各種缺陷,
例如異物,劃痕,拋光不均勻,霧度和最終成品表面上的打滑,這在半導體晶圓的加工過(guò)程中是最費力的工作和液晶基板.
1.樣品表面的照明度可達到400,000 Lx以上。
2.由于使用鹵素燈作為光源,因此色溫高,幾乎沒(méi)有不均勻的照明,并且照明
非常穩定且清晰。
3.通過(guò)使用冷鏡,可以將熱量的影響極大地
降低到傳統鋁鏡的1/3 。
4.兩階段切換機制使您可以通過(guò)一次觸摸在高光觀(guān)察和低光觀(guān)察之間進(jìn)行切換
。
YP-150I ? ? ?照度范圍φ30YP-250I ? ?
?照度范圍φ60
?。╕P-250I可以從螺旋槳式風(fēng)扇和風(fēng)管式風(fēng)扇中選擇)。
標準構成如下。
照度:照射距離 310mm、照射直徑徑 55mmφ時(shí)照度在 400,000 Lux以上)
光源:直流點(diǎn)燈 17V/185W 鹵素燈
照度調整:連續可調至照度的 20%
冷卻方式:強制空冷
使用溫度范囲:0~40℃
電源電圧:AC 95V~AC 260V,50/60Hz
功率:250W
尺寸:光源 136mm H×112mm W×150mm D
電源 229mm H×90mm W×250mm D
重量:光源2.3kg
電源3.6kg
立桿5.0kg