| 產(chǎn)品名稱(chēng)/型號 | 設備描述 | 目錄 | 電影 |
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 HED-W5300D | 全自動(dòng)晶圓ESD測試儀Wafer ESD 測試儀 HED-W5300D 與傳統產(chǎn)品 HED-W5100D 相比有了很大的發(fā)展，現在可以自動(dòng)控制放置 Wafer 的平臺。
即使是 300mm 級的 Wafer 也可以通過(guò)簡(jiǎn)單地將 Wafer 放在平臺上來(lái)輕松測量。
毫無(wú)疑問(wèn)，工作效率將大大提高。
此外，除了常規產(chǎn)品外，還可以測試一般包裝產(chǎn)品。 |
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 HED-W5100D | 全自動(dòng)晶圓ESD測試儀從 LED 到用于系統 LSI 的大直徑晶圓，HBM 和 MM 都可以應用。
施加ESD后，可以通過(guò)V/I測量來(lái)判斷破壞情況。
此外，可以使用與ESD測試密切相關(guān)的TLP測試設備進(jìn)行組合測試。
對于在ESD測試中出現問(wèn)題的器件獲取保護電路的工作參數很有用。
它是符合日本和海外標準的高度可靠的設備。(符合JEITA/ESDA/JEDEC標準) |
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 HED-W5000M | 高性能
手動(dòng)晶圓ESD測試儀您可以通過(guò)操作機械手輕松對齊 2 個(gè)引腳。
施加脈沖后，可以通過(guò) Vf/Im 測量來(lái)判斷破壞情況。 |
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 HED-W5000M-SP0 | 低成本晶圓 ESD 測試儀它以低成本提供高性能。
通過(guò)打開(kāi)控制軟件，您可以構建廣泛的應用程序。 |
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 HED-W5000M-WFC | 晶圓ESD測試儀TLP測試設備在收集和分析內置于集成電路中的保護電路的工作參數方面發(fā)揮了重要作用，但隨著(zhù)半導體小型化的進(jìn)展，需要進(jìn)一步的保護電路來(lái)提高ESD抗性，需要開(kāi)發(fā)速度。
HED-W5000M-WFC測試儀可以觀(guān)察實(shí)際施加到器件上的ESD波形，這對于收集、分析和加快保護電路參數的開(kāi)發(fā)非常有用。
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