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日本電測densoku多點(diǎn)同時(shí)測??量渦流膜厚儀技術(shù)
本體1臺で多點(diǎn)を同時(shí)に測定します。
?多點(diǎn)を同時(shí)に測定
?測定時(shí)間 3秒
?50～100點(diǎn)の同時(shí)測定が可能
多點(diǎn)同時(shí)測定渦電流式膜厚計
多點(diǎn)を同時(shí)に測定。
※畫(huà)像クリックで動(dòng)畫(huà)が流れます。音
一個(gè)主機可以同時(shí)測量多個(gè)點(diǎn)。
?同時(shí)測量多個(gè)點(diǎn)
?測量時(shí)間3秒
?可以同時(shí)測量50至100點(diǎn)
多點(diǎn)同時(shí)測??量渦流式膜厚計
同時(shí)測量多個(gè)點(diǎn)。
