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日本電測densoku便攜式膜厚計QNIx系列
一種便攜式膜厚計,可以容易地提高麻煩的膜厚測量的生產(chǎn)效率。
QNIx系列產(chǎn)品允許您僅使用超輕型緊湊型儀器和探頭即可測量膜厚,而無(wú)需攜帶厚膜厚計。
無(wú)線(xiàn)測量無(wú)需電纜。它有助于將測量數據傳輸到個(gè)人計算機,也有助于防止測量過(guò)程中掉落事故。
無(wú)需校準薄膜即可進(jìn)行精que的薄膜厚度測量
提供出廠(chǎng)時(shí)輸入的16點(diǎn)校準數據。這樣就無(wú)需進(jìn)行麻煩的薄膜打樣工作,并且可以進(jìn)行精que的薄膜厚度測量。
膜厚測量數據傳輸的新技術(shù)
在傳統的測量?jì)x器中,測量?jì)x器通過(guò)電纜連接到個(gè)人計算機以傳輸測量數據。QNIx系列使用“無(wú)線(xiàn)加mi狗”,只需將其插入USB端口即可進(jìn)行傳輸。您可以更快,更輕松地瀏覽測量數據。
超輕便的無(wú)線(xiàn)測量?jì)x
探頭測得的數據被無(wú)線(xiàn)發(fā)送到主機。也減少了被電纜夾住或像常規產(chǎn)品一樣妨礙并導致墜落事故的風(fēng)險。此外,該探頭重30克,非常輕巧,因此您無(wú)需攜帶笨重的儀器。
一種不易折斷且不會(huì )在測量對象上留下痕跡的探針。
QNIx系列探頭被增強塑料包圍,耐用性提高了30%。即使在極少數的故障情況下,拆卸和維修也很容易,因此可以縮短維修時(shí)間。此外,它配備了紅寶石芯片,因此您可以安全地測量樣品而不會(huì )損壞它。
QNIx 8500 | QNIx 4500/4200 | QNIx 7500 | QNIx Carcheck系統 | QNIx方便 | |
可測量的電影 | [F]黑色金屬上的非磁性涂層 [N]黑色金屬上的非導電涂層 [FN]黑色/黑色材料上的非磁性/非導電涂層 | [FN]黑色金屬和有色金屬材料上的非磁性和非導電涂層 | [FN]鐵/鋁材料上的非磁性/非導電膜厚度 | ||
材料識別 | 黑色金屬和有色金屬的 自動(dòng)識別和交換 | 黑色金屬和有色金屬的 自動(dòng)識別和交換 | 用戶(hù)的轉換 | 黑色金屬和有色金屬的 自動(dòng)識別和交換 | 鐵/有色金屬自動(dòng)識別模式轉換 |
測量原理 | [F]磁通量(霍爾效應) [N]渦流 | ||||
測量范圍 | 0至2,000μm (可選:5,000μm) | 0至3,000μm | 0至2,000μm (可選:5,000μm) | 0?5,000微米 | 0?500微米 |
gao 分辨率 | 0.1μm,1μm [M] 0.01μm | 1微米 | 0.1微米 | 0.1微米,1微米 | 5微米 |
配置格式 | 0點(diǎn)校正 用戶(hù)校準:1 [M] 100 | 0點(diǎn)校正 | 0點(diǎn)校正 | 沒(méi)有校準功能 | 沒(méi)有校準功能 |
準確性 | ±(1μm+ 2%) ±3.5% (2mm以上) [T] ± (0.3μm+ 2%) | ±(2μm+ 3%) | ±(1μm+ 3%) | ±(1μm+ 2%) ±3.5% (2mm以上) | ±(10微米+ 5%) |
測量速度 | 1,500ms (約40次/分鐘) [T] 920ms (約65次/分鐘) [R] 1,600ms (約37次/分鐘) | 600ms (約70次/分鐘) | 1,300ms (約46次/分鐘) | 1,500ms (約40次/分鐘) | 600ms (約100次/分鐘) |
便攜式薄膜測厚儀的型號代碼指南
[F]黑色金屬材料的非磁性膜厚度測量
[N]有色金屬材料的非導電膜厚度測量
[FN]用一根探針測量黑色金屬和有色金屬的厚度
[T]微型探針
[M]測量數據存儲功能,數據傳輸到PC