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日本sasaki koki半導體玻璃用非接觸式測厚儀OZUMA2 通過(guò)空氣背壓法可以進(jìn)行非接觸式測厚（非接觸式測厚），不會(huì )造成劃痕和污染等損壞。不依賴(lài)于薄膜和顏色光澤等材料，可以輕松進(jìn)行高精度的非接觸式厚度測量（非接觸式厚度測量）。

日本sasaki koki半導體晶體非接觸式測厚儀OZUMA22 OZUMA 更新了用于半導體晶片（Si 硅晶片、GaAs、砷化鎵 Ga）、砷（As）、玻璃、金屬等的高精度非接觸式厚度測量裝置（非接觸式厚度測量裝置） . 非接觸式測厚儀OZUMA22用于控制半導體晶片（Si硅晶片、GaAs、鎵（Ga）砷（As））在背面拋光過(guò)程中，或在每個(gè)制造過(guò)程中的厚度（厚度）?？捎糜冢ê穸龋┛刂频姆墙佑|式測量。

日本olympus磁性測厚儀Magna-Mike 8600 瑪格納-麥克8600是一個(gè)簡(jiǎn)單的磁性測厚儀，可以重復地測量非磁性材料以高準確度的壁厚。操作非常簡(jiǎn)單，小球或盤(pán)稱(chēng)為目標材料，電線(xiàn)，放置在或在測量對象一側上，通過(guò)在接觸與磁性探測從相反側你掃描，以?shī)A住工件。使用霍爾效應測量探針和靶材料，并實(shí)時(shí)顯示一個(gè)大的顯示器上的測量值之間的距離的傳感器。

日本olympus超聲波測厚儀38DL PLUS 創(chuàng )新的 38DL PLUS 預示著(zhù)超聲波測厚儀的新時(shí)代。該手持式測厚儀適用于大多數超聲波壁厚測量的檢測應用，可與雙振型探頭和單振型探頭的所有探頭配合使用。38DL PLUS 可用于廣泛的應用，從使用雙振蕩器型探頭對內部腐蝕管道的減薄測量到使用單振蕩器型探頭對薄或多層材料的精確厚度測量。

日本olympus超聲波測厚儀 45MG 45MG是一款高性能超聲波測厚儀，除了標準的腐蝕測厚功能外，還支持各種軟件選項的精密測厚。它是一種一體化解決方案，通過(guò)支持奧林巴斯雙振蕩器和單振蕩器厚度測量探頭，可用于廣泛的應用。