日本snk漂浮的細小顆粒檢查光源

產(chǎn)品型號： Parallel Eye D

所屬分類(lèi)：光源

產(chǎn)品時(shí)間：2023-11-15

簡(jiǎn)要描述：日本snk漂浮的細小顆粒檢查光源Parallel Eye D
*的多功能LED光源 不僅可以觀(guān)察漂浮的細顆粒，還可以觀(guān)察粘附在表面的細顆粒和污垢。

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日本snk漂浮的細小顆粒檢查光源Parallel Eye D

*的多功能LED光源 不僅可以觀(guān)察漂浮的細顆粒，還可以觀(guān)察粘附在表面的細顆粒和污垢。

[功能1]可以
從遠程位置進(jìn)行可視化

僅可視化的光源，可以到達很遠的地方

盡管LED通常不適合可視化微粒，但我們已經(jīng)實(shí)現了通過(guò)精que的光學(xué)設計可視化微粒的z佳光源。
盡管通常不可能將光源靠近實(shí)際位置，但Parallel Eye D可以將光從幾米遠的距離傳遞到可視化目標空間。

[功能2]
高靈敏度可視化

熒光燈下懸浮微粒的可視化

通過(guò)根據高感光度相機的感光度特性進(jìn)行設計，我們實(shí)現了傳統普通光源所沒(méi)有的感光度。與
于細顆?？梢暬某`敏相機“ Eyescope"結合使用時(shí)，即使在距光源幾米的距離處，也可以可視化微米級大小的細顆粒。
此外，如果使用了可選的濾鏡，即使在明亮的環(huán)境中進(jìn)行可視化攝影，也可以在幾乎不降低感光度的情況下可視化顆粒。

[特征3]
也可以用作表面異物觀(guān)察光源

可視化表面附著(zhù)的顆粒

通過(guò)與D-light相同的原理，只有粘附到表面的熒光粒子可以選擇性地可視化?？梢酝ㄟ^(guò)熒光顏色的差異來(lái)識別物質(zhì)的類(lèi)型。

[功能4]
實(shí)現低價(jià)的細顆?？梢暬到y

與圖像處理程序包結合使用時(shí)，可以觀(guān)察到懸浮顆粒和表面粘附顆粒的當前狀態(tài)，并將其記錄在個(gè)人計算機上。與低功率激光器相比，高靈敏度的氣流和細顆?？梢暬殉蔀榭赡?，并且成本相對較低。

視覺(jué)可視化的z佳選擇“ Parallel Eye M"

<姐妹產(chǎn)品>
還有一種綠光類(lèi)型，專(zhuān)門(mén)用于可視化粗顆粒和氣流示蹤劑。

日本snk漂浮的細小顆粒檢查光源Parallel Eye D

可視化系統配置的z佳解決方案

• 帶有小型CCD的圖像處理軟件包“ Particle Eye"，用于在PC上進(jìn)行實(shí)時(shí)圖像處理和記錄

• 具有于微?？梢暬撵`敏度和功能的超高靈敏度相機是的超高靈敏度相機“ Eyescope"。

• 簡(jiǎn)單的氣流速度分布測量軟件“ plus PIV"，可從氣流可視化圖像輕松獲得氣流速度分布

• “ D Light"，一種工具，可以更容易地從表面的異物和污垢中看到熒光色

• “ D Scope"是一種工具，可以捕獲細顆粒的各種信息，并通過(guò)捕獲弱熒光將其轉換為數據。

• 我們還提供現場(chǎng)評估服務(wù)，可使用細顆?？梢暬夹g(shù)和表面粘附的異物可視化技術(shù)分析異物的現狀和因素。?