日本ourstex熒光X射線(xiàn)分析儀OURSTEX 160

產(chǎn)品型號：

所屬分類(lèi)：其他設備

產(chǎn)品時(shí)間：2021-04-14

簡(jiǎn)要描述：日本ourstex熒光X射線(xiàn)分析儀OURSTEX 160
OURSTEX 160型被?選為東京都政du于2006年3月執行的《環(huán)境安全條例》中用于土壤污染調查（重金屬等）的簡(jiǎn)單快速分析技術(shù)（簡(jiǎn)單分析方法）。

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日本ourstex熒光X射線(xiàn)分析儀OURSTEX 160

OURSTEX 160型被?選為東京都政fu于2006年3月執行的《環(huán)境安全條例》中用于土壤污染調查（重金屬等）的簡(jiǎn)單快速分析技術(shù)（簡(jiǎn)單分析方法）。

　■用于工廠(chǎng)現場(chǎng)的土壤分析... 　●可以進(jìn)行無(wú)損且快速的成分分析?！　窬o湊輕巧，因此可以進(jìn)行現場(chǎng)分析?！　裉岣吡酸槍χ?，重金屬元素的靈敏度?！　馯tility僅適用于A(yíng)C100V-5A?！　裨O備內部是受控區域。

元素技術(shù)的結晶/高靈敏度和高精度

能量色散X射線(xiàn)熒光分析儀用來(lái)自X射線(xiàn)管的原始X射線(xiàn)輻照樣品，并使用半導體檢測器測量產(chǎn)生的X射線(xiàn)熒光，因此無(wú)論樣品的形狀如何，它都是非破壞性的元素定性的。樣品。?進(jìn)行定量分析。
半導體檢測器使用不需要液氮冷卻的電子冷卻的硅漂移檢測器（SDD），并且可以與數字計數電路（DSP）結合使用以測量高分辨率和高計數率。
為了提高分析性能，準備了可以使能量分辨率和半導體檢測器的計數靈敏度z大化的激發(fā)光學(xué)系統的條件。

應用實(shí)例

• 同時(shí)分析碘化銫（CsI）化合物中的碘（I）和銫（Cs）
• 焚燒灰分的分析實(shí)例
• 水泥分析實(shí)例
• 采石場(chǎng)的土石，沙礫和碎石現場(chǎng)分析示例
• 鋁合金中鎂的測量示例（每種類(lèi)型）
• 農yao污染土壤的分析
• 工業(yè)廢物分析
• 土壤中有害重金屬元素的分析
• 石油中的硫分析
• 新型固體燃料RPF分析

日本ourstex熒光X射線(xiàn)分析儀OURSTEX 160

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