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產(chǎn)品型號:
所屬分類(lèi):超聲波測厚儀
產(chǎn)品時(shí)間:2021-04-08
簡(jiǎn)要描述:日本sasaki koki非接觸式測厚儀OZUMA22半導體(各種材料)的晶片硅Si.GaAs砷化鎵等,玻璃,金屬,化合物等的高精度非接觸式厚度測量(非接觸式厚度測量)
日本sasaki koki非接觸式測厚儀OZUMA22
<用途>
半導體(各種材料)的晶片硅Si.GaAs砷化鎵等,玻璃,金屬,化合物等的高精度非接觸式厚度測量(非接觸式厚度測量)
<功能>
1. 1??梢酝ㄟ^(guò)空氣背壓法進(jìn)行非接觸式厚度測量(非接觸式厚度測量),并且不會(huì )造成刮擦和污染等損壞
??梢暂p松進(jìn)行高精度的非接觸式厚度測量(非接觸式厚度測量),而無(wú)需依賴(lài)諸如薄膜和彩色光澤之類(lèi)的材料
。潮濕時(shí)可以進(jìn)行高精度的非接觸式厚度測量(非接觸式厚度測量)
。即使鏡面透明或半透明,也可以毫無(wú)問(wèn)題地進(jìn)行高精度的非接觸式厚度測量(非接觸式厚度測量)
。由于使用上下測量噴嘴進(jìn)行測量,因此
可以精que地測量“厚度”,而不受測量對象“打滑”引起的提升的影響。
?。ㄒ部梢赃x擇“滑行”測量(* 1))
6。由于操作簡(jiǎn)便,因此可以非常輕松地進(jìn)行測量和校準(* 2)。
<測量原理>
精que控制上下測量噴嘴的背壓,對噴嘴進(jìn)行定位,使噴嘴和被測物體之間的間隙保持恒定,并使用預先用基準量規校準的值進(jìn)行比較計算處理。對被測物進(jìn)行測量操作,可以精que計算出厚度。
日本sasaki koki非接觸式測厚儀OZUMA22
<性能>
分辨率0.1μm
重復精度10次重復測量時(shí)的標準偏差(1σ)0.3μm以下
最大測量范圍 10mm(* 3)
供應能源電源AC100V 50 / 60Hz 3A
清潔空氣0.4MPa 20NL /分鐘(* 4)