日本東洋精工toyoseiko氣正電子壽命測量?jì)x

產(chǎn)品型號： PSA

所屬分類(lèi)：光源

產(chǎn)品時(shí)間：2020-11-18

簡(jiǎn)要描述：日本東洋精工toyoseiko氣正電子壽命測量?jì)xPSA
這是一種可通過(guò)陽(yáng)離子評估亞納米級尺寸（原子水平）微小缺陷和空洞的方法。
陽(yáng)離子壽命測量方法是一種能夠使用陽(yáng)離子評估亞納米級（原子級）微小缺陷和空隙的方法。

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日本東洋精工toyoseiko氣正電子壽命測量?jì)xPSA

產(chǎn)品概要

• 這是一種可通過(guò)陽(yáng)離子評估亞納米級尺寸（原子水平）微小缺陷和空洞的方法。
• 陽(yáng)離子壽命測量方法是一種能夠使用陽(yáng)離子評估亞納米級（原子級）微小缺陷和空隙的方法。?

該設備的應用示例

•  噴丸質(zhì)量檢查
• 金屬疲勞損傷評估

適用對象

•  各種金屬，例如鋼，鋁和鈦
•  非晶態(tài)材料，例如玻璃和聚合物
•  測量深度距表面（鋼鐵材料）約50μm

*與工業(yè)技術(shù)研究院共同開(kāi)發(fā)?

正電子壽命法原理

圖1是從正電子進(jìn)入金屬材料到??消失的示意圖。
正電子壽命測量方法是一種精que地測量在產(chǎn)生陽(yáng)離子時(shí)發(fā)射的γ射線(xiàn)與在一對電子消失時(shí)產(chǎn)生的γ射線(xiàn)之間的時(shí)間差（正電子壽命）的技術(shù)。
隨著(zhù)材料中孔隙缺陷的增多和位錯密度的提高，正電子壽命會(huì )增加。

人性化的測量系統

• 反巧合（AC）系統

我們已經(jīng)開(kāi)發(fā)了一種反巧合（AC）系統，該系統可區分發(fā)射到樣品另一側的正電子信號。^1）  （圖1）
通過(guò)采用交流系統，可以在不將輻射源與測量樣品夾在中間的情況下測量正電子壽命。因此，即使只有一個(gè)測試件，也可以進(jìn)行測量。此外，它可以安全使用，而無(wú)需麻煩地處理輻射源。
^1）  M.Yawakiki等人JJAP 50（2011）086301

• 自動(dòng)設置系統自動(dòng)
  配置程序中測量所需的設置。設置完成后，可以立即開(kāi)始測量，并且可以自動(dòng)執行粗略分析。?

• 請使用低于規定值的密封放射源。請使用低于
  放射線(xiàn)危害防止法規定的規定值的放射源。該設備可以在一般實(shí)驗室中使用，不需要資格認證。

日本東洋精工toyoseiko氣正電子壽命測量?jì)xPSA

通用規格