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產(chǎn)品型號:
所屬分類(lèi):光源
產(chǎn)品時(shí)間:2023-11-15
簡(jiǎn)要描述:日本santec可變波長(cháng)光學(xué)元件掃描測試系統通過(guò)結合可變波長(cháng)光源(TSL系列),功率計(MPM),偏振控制單元(PCU-100)和定制軟件,在研發(fā)和生產(chǎn)線(xiàn)上對IL / WDL / PDL進(jìn)行有效的測量和評估你能行的。
日本santec可變波長(cháng)光學(xué)元件掃描測試系統
掃頻測試系統
通過(guò)結合可變波長(cháng)光源(TSL系列),功率計(MPM),偏振控制單元(PCU-100)和定制軟件,在研發(fā)和生產(chǎn)線(xiàn)上對IL / WDL / PDL進(jìn)行有效的測量和評估你能行的。
多站測量
通過(guò)將掃頻測試系統與多分支單元相結合,可以進(jìn)一步提高檢查和評估的效率。
總覽
掃頻測試系統結合了可變波長(cháng)光源(TSL系列),多端口功率計(MPM系列),偏振控制單元(PCU-100)和軟件,是光學(xué)設備和生產(chǎn)現場(chǎng)研發(fā)的理想選擇。這是一個(gè)評估工具。通過(guò)實(shí)時(shí)參考可變波長(cháng)光源的輸出功率同時(shí)獲取通過(guò)DUT傳輸的光功率,可以高精度地測量IL / WDL / PDL。該系統使用穆勒矩陣方法來(lái)計算PDL。
特性
WDL(與波長(cháng)有關(guān)的損耗)測量
80 dB或更高的高動(dòng)態(tài)范圍測量
我們的可變波長(cháng)光源TSL系列配備了具有創(chuàng )新設計的諧振器,可減少ASE光學(xué)噪聲,同時(shí)實(shí)現很高的信噪比和很高的光學(xué)輸出功率。因此,該系統可以同時(shí)評估具有高動(dòng)態(tài)范圍特性的光學(xué)組件的多個(gè)端口的特性。
下圖分別顯示了CWDM濾波器和陷波濾波器(例如FBG)的測量數據。
波長(cháng)精度高+/- 3 pm
由于TSL系列標配了波長(cháng)監視器,因此可以高精度地測量光學(xué)組件。
下圖顯示了乙炔(12C2H2)氣體吸收線(xiàn)的測量波長(cháng),可以看出以*的測量精度可以進(jìn)行測量。
波長(cháng)分辨率低于0.1 pm
該系統不僅可以用于WDM的光學(xué)組件,而且可以用于窄線(xiàn)寬濾光片,以高波長(cháng)分辨率測量WDL和PDL。
該圖是超高Q容量設備的測量結果,您可以看到它可以以0.1 pm或更小的分辨率進(jìn)行測量。
運用
配置示例
1. PDL(極化相關(guān)損耗)測量
2. WDL(波長(cháng)相關(guān)損耗)測量 ??
3. WDL(波長(cháng)相關(guān)損耗)測量(其他公司的功率計)
日本santec可變波長(cháng)光學(xué)元件掃描測試系統
多站點(diǎn)檢測
在多站測量系統中,可變波長(cháng)光源,偏振控制器和多分支單元用作服務(wù)器,并且光和觸發(fā)信號從它們分支并發(fā)送到每個(gè)站。每個(gè)站僅包含一個(gè)功率計和一臺PC。
在測量期間,服務(wù)器的可變波長(cháng)光源連續掃描預定范圍。因此,每個(gè)站可以隨時(shí)獨立于其他站進(jìn)行測量。
這樣,該系統可以在保持高精度特性的同時(shí)進(jìn)一步提高檢查和評估的效率。