日本napson手持式薄層電阻測量?jì)xDUORES

產(chǎn)品型號：

所屬分類(lèi)：其他設備

產(chǎn)品時(shí)間：2020-09-18

簡(jiǎn)要描述：日本napson手持式薄層電阻測量?jì)xDUORES
易于攜帶和測量的手提式薄層電阻測量?jì)x：DUORES
根據測量目標交換和使用兩種類(lèi)型的探頭（無(wú)損探頭和接觸探頭）。

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日本napson手持式薄層電阻測量?jì)xDUORES

產(chǎn)品特點(diǎn)

易于攜帶和測量的手提式薄層電阻測量?jì)x：DUORES

根據測量目標交換和使用兩種類(lèi)型的探頭（無(wú)損探頭和接觸探頭）。

•世界上首ge可替換和使用兩種類(lèi)型的探頭（無(wú)損型和接觸型）的便攜式座位電阻測量裝置 •
只需放置/敲擊探頭即可自動(dòng)進(jìn)行測量
•電池連續工作時(shí)間：24小時(shí)（*電池）使用時(shí)）
•顯示的數據數量：多100（*從xin數據顯示）

•存儲的數據數量：多50,000（*軟件顯示屏）
•測量數據傳輸功能：USB-Mini
•顯示：3種類(lèi)型的顯示單位（Ω/□，S /□，n / m [金屬膜厚度轉換]）， 4位浮動(dòng)小數點(diǎn)（0.000到9999）

日本napson手持式薄層電阻測量?jì)xDUORES

測量規格

測量目標

薄膜，玻璃，紙材料等
通常，可以在測量范圍內測量任何樣品。
•薄膜材料（ITO，TCO等）
•低電子玻璃
•碳納米管，石墨烯材料
•金屬材料（納米線(xiàn)，網(wǎng)格，網(wǎng)眼）
•其他

測量尺寸

不論尺寸和厚度如何均可測量
（* 大于每個(gè)探頭的測量點(diǎn)尺寸）

<測量點(diǎn)>

?無(wú)損探棒（渦電流型）：φ25mm

?接觸式探頭（4種探頭類(lèi)型）：9毫米

測量范圍

?無(wú)損探棒（渦電流法）：0.5 -200Ω/ sq
?接觸探棒（4探法）：0.1 -4000Ω/ sq

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