日本KJTD體積聚焦相控陣超聲波探傷儀

產(chǎn)品型號： FLASH FOCUS

所屬分類(lèi)：探傷儀

產(chǎn)品時(shí)間：2020-09-03

簡(jiǎn)要描述：日本KJTD體積聚焦相控陣超聲波探傷儀FLASH FOCUS
128通道并行驅動(dòng)型高速相控陣探傷系統現已上市！
在過(guò)去很難進(jìn)行瑕疵檢測的特殊環(huán)境中以及在需要瑕疵檢測速度的特殊環(huán)境中，Flash Focus與超聲波瑕疵檢測兼容。高速，高精度探傷支持所需的高質(zhì)量保證。

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日本KJTD體積聚焦相控陣超聲波探傷儀FLASH FOCUS

128通道并行驅動(dòng)型高速相控陣探傷系統現已上市！
在過(guò)去很難進(jìn)行瑕疵檢測的特殊環(huán)境中以及在需要瑕疵檢測速度的特殊環(huán)境中，Flash Focus與超聲波瑕疵檢測兼容。高速，高精度探傷支持所需的高質(zhì)量保證。

特征

多可并行驅動(dòng)128個(gè)元件

通過(guò)增加同時(shí)使用的元件數量，提高了光束聚焦能力，并且還增加了掃描圖案。

線(xiàn)性?huà)呙?/p>

部門(mén)掃描

區域重點(diǎn)

動(dòng)態(tài)深度聚焦

體積聚焦技術(shù)（專(zhuān)li3704065）

xin的相控陣技術(shù)可實(shí)現高速，高分辨率的缺陷檢測。

可以使用各種探針檢測缺陷

除了普通的線(xiàn)性探針，我們還使用矩陣探針和細間距探傷實(shí)現了更細的束斑尺寸。通過(guò)使用不同的探針可以在各種情況下進(jìn)行檢查。

線(xiàn)性探針

年度矩陣探測

方陣探頭

日本KJTD體積聚焦相控陣超聲波探傷儀FLASH FOCUS

體積聚焦技術(shù)是我公司開(kāi)發(fā)的相控陣超聲探傷技術(shù)（專(zhuān)li3704065）。常規的相控陣掃描方法如下。

• 對于線(xiàn)性或扇形掃描，將發(fā)射光束指向一個(gè)方向，并且焦點(diǎn)位于軸的中心
• DDF或區域焦點(diǎn)一次聚焦在一個(gè)點(diǎn)上，然后繼續沿光束移動(dòng)

另一方面，體積聚焦是一次掃描整個(gè)橫截面（例如樣品體積）的新方法。通過(guò)同時(shí)激發(fā)所有元素來(lái)創(chuàng )建一個(gè)不分散的平面波。

每個(gè)平行的元素都從底面，夾雜物，缺陷等處接收反射的脈沖能量。然后，并行數字硬件處理實(shí)時(shí)創(chuàng )建B掃描和C掃描。

從概念上講，體積焦點(diǎn)類(lèi)似于DDF，但體積焦點(diǎn)可以覆蓋所有橫截面或體積，而不僅僅是沿深度軸。