您好,歡迎來(lái)到秋山科技(東莞)有限公司!
日本朝日分光asahi-spectra光學(xué)膜厚儀OMD-1000 這是一臺光譜膜厚監測儀,用于監測在用單色光進(jìn)行氣相沉積過(guò)程中基板上的光量變化。它也用在我們自己的氣相沉積設備中,并作為膜厚監測設備完成,該設備具有氣相沉積零件制造商的專(zhuān)有技術(shù)。
日本朝日分光紅外傳感器材料的透明度測量?jì)xTLV-304-IR 緊湊型透射測量?jì)x,非常適合紅外接近傳感器的材料檢查過(guò)程。接近傳感器對應于850 nm的光接收波長(cháng)。 *您也可以選擇940nm類(lèi)型。其他波長(cháng)請聯(lián)系我們。
日本朝日分光可見(jiàn)透射率檢查儀TLV-304-LC 它是一種檢查器,可快速顯示透明度,其值接近人眼所見(jiàn)。
日本asahi-spectra朝日分光滲透率測量?jì)xTLV-304-BP 它是一種檢查器,可以立即測量固定波長(cháng)的透射率
日本朝日分光高靈敏多通道光譜儀HSU-100H 它是一種多通道光譜儀,涵蓋從紫外線(xiàn)到近紅外(250至1100 nm)的廣泛波長(cháng)范圍,并可以輕松,快速地進(jìn)行光譜測量。 通過(guò)與測量單元組合,可以測量光譜透射率和反射率。