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產(chǎn)品型號: TM3
所屬分類(lèi):
產(chǎn)品時(shí)間:2020-10-08
簡(jiǎn)要描述:日本thermal測量薄膜和微小區域的熱導率TM3熱物理性質(zhì)顯微鏡是一種測量熱導率的裝置,熱導率是熱物理性質(zhì)值之一。它是一種可以通過(guò)點(diǎn),線(xiàn)和表面來(lái)測量樣品的熱性能的設備。也可以測量微米級的熱物理性質(zhì)值的分布,這在常規熱物理性質(zhì)測量設備中被認為是困難的。
日本thermal測量薄膜和微小區域的熱導率TM3
在樣品上形成金屬薄膜,并用加熱激光器定期加熱。
日本thermal測量薄膜和微小區域的熱導率TM3
名稱(chēng)/產(chǎn)品名稱(chēng) | 熱物理顯微鏡/熱顯微鏡 |
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測量方式 | 熱物理性質(zhì)分布測量(1維,2維,1點(diǎn)) |
測量項目 | 熱滲透率,(熱擴散率),(熱導率) |
檢測光斑直徑 | 約3μm |
1點(diǎn)測量標準時(shí)間 | 10秒 |
待測薄膜 | 厚度幾百納米到幾十微米 |
重復精度 | 耐熱玻璃,硅的熱滲透率小于±10% |
樣品 | 1.樣品架30mm x 30mm厚度5mm 2.板狀樣品30mm x 30mm以?xún)?,厚?mm以?xún)?ul> |
工作溫度極限 | 24°C±1°C(根據設備中內置的溫度傳感器) |
平臺移動(dòng)距離 | ? X軸方向20mm ? Y軸方向20mm ? Z軸方向10mm |
加熱激光 | 半導體激光波長(cháng):808nm |
檢測激光 | 半導體激光波長(cháng):658nm |
電源供應 | 交流100V 1.5kVA |
標準配件 | 樣品架,參考樣品 |
選項 | 光學(xué)壓盤(pán),空調,空調房,飛濺裝置 |