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日本ae-mic用于超高精度電阻器檢查AE-163D 適用于 B,C,D,F,G,J,K類(lèi),切屑,熔體,徑向和軸向電阻器的分揀和編帶機
日本ae-mic高精度數字電阻檢查器AE-162L D,F,G,J,K類(lèi),兼容超小型芯片(0201、03015),包帶機
日本ae-mic用于超高速芯片電阻檢測AE-162D D,F,G,J,K類(lèi),切屑,熔體,徑向和軸向電阻器的分揀機和編帶機的理想選擇
日本清新betterseishin激光微米粒度儀LMS-3000 新的激光粒度分析儀/激光微米分級儀LMS-3000可與干型和濕型兼容,其緊湊的尺寸可提供出色的性能。它易于使用,任何人都可以安全地測量從納米到毫米的各種粒徑。
日本sinko-denki手動(dòng)針孔檢查機KS1-1 / 2 由于該機器使用高電壓,如果它是大約幾十微米的薄膜,會(huì )引起絕緣故障,從而可用于針孔檢查。